ஊடுருவி எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கி: திருத்தங்களுக்கு இடையிலான வேறுபாடு
உள்ளடக்கம் நீக்கப்பட்டது உள்ளடக்கம் சேர்க்கப்பட்டது
"ஊடுருவி எதிர்மின்னி நுண்..."-இப்பெயரில் புதிய பக்கம் உருவாக்கப்பட்டுள்ளது |
No edit summary |
||
வரிசை 1:
'''ஊடுருவி எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கி''' (''Transmission electron microscope'', ஊஎநு) என்பது எதிர்மின்னி ஆற்றலைப் பயன்படுத்தி அதி நுண்மையான பொருள்களின் தோற்றத்தை அறியப் பயன்படும் [
==வரலாறு==
இதை 1931ம் ஆண்டு மாக்ச் க்னால் மற்றும் எர்னச்டு ருச்கா இணைந்து இதை உருவாக்கினர். இது முதலில் ஒளி நுண்ணோக்கியால் காண்பதைவிட சற்று பெரிதாக காட்டுவதாக உருவாக்கினர். காலப்போக்கில் பல மாற்றங்களைப் பெற்று தொழில்நுட்பத்தில் அதீத வளர்ச்சியடைந்திருக்கிறது. இவை 1939 ம் ஆண்டு சந்தைக்கு கொண்டுவரப்பட்டது.
==பாகங்கள்==
இவை அனைத்தும் இயங்க வெற்றிடமும், எதிர்மின்னியை உருவாக்க டங்சுடன்/தங்குதன் இழை அல்லது இலந்தனம் ஆறுபோரேடு இழை, எதிர்மின்னி துப்பாக்கி, அதிக ஆற்றல் கொண்ட மின் (100-300 KV) திறன், காந்த வில்லைகள், ஒளிருத்திரை ஆகியன இடம் பெற்றுள்ளன.
==செயல்பாடு==
தனிம இழைகளில் அதிக ஆற்றல் கொண்ட மின்திறன் பட்டு வெளிப்படும் எதிர்மின்னியை ஒழுங்குபடுத்தி அதிமெலிதாக வெட்டப்பட்ட மாதிரிகளின் மீது படச்செய்து, அவ்வெதிர்மின்னி அம்மாதிரியிலுள்ள அனுக்களுடன் இணைந்து தகவல் கொண்ட குறிப்புகளாக கடந்து செல்கிறது. இவ்வாறு கடந்து செல்லும் மின்னிகீற்றுகள் தொகுப்புதுளைகளால் இலக்கை நோக்கி செலுத்தி காந்த வில்லைகளால் ஒளித்திரைகளின் மீது பட்டு பிம்பம் பெறப்படுகிறது.
==காட்சி==
பாசுப்பரசுகளால் ஆன ஒளித்திரையில் படும் தகவல் மின்னிக்கீற்றிகள் அதி நுண்மமாக்கப்பட்ட (10 - 100 μm) துத்தநாக சல்பைடுகளின் துணையால் நேரடிப் பார்வைக்கு கிடைக்கிறது. இதை சிசிடி படப்பெட்டியின் துணைக்கொண்டு கணினிக்கு அனுப்பப்பட்டு காணமுடியும்.
==பயன்==
இவை உயிரணுவியல் துறை, அதிக நுண்மையாக காண, நுண்ணறைகளின் உட்பாகங்களை அறிய, படிமங்களைப் பற்றிப்படிக்க இந்நுண்ணோக்கி பயன்படுகிறது.
==மேற்குறிப்புகள்==
* Kirkland, E (1998). Advanced computing in Electron Microscopy. Springer. ISBN 0306459361
* Ernst Ruska, translation my T Mulvey. The Early Development of Electron Lenses and Electron Microscopy. ISBN 3-7776-0364-3
வரிசை 27:
* Edited by Jon Orloff (1197). Orloff, J. ed. Handbook of Electron Optics. CRC-press. ISBN 0849325137.
* Reimer,L and Kohl, H (2008). Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation. Springer
[[en:Transmission electron microscopy]]
| |||