AFMsetup.jpg(721 × 569 படவணுக்கள், கோப்பின் அளவு: 86 KB, MIME வகை: image/jpeg)

இது விக்கிமீடியா பொதுக்கோப்பகத்தில் இருக்கும் ஒரு கோப்பாகும். இக்கோப்பைக் குறித்து அங்கே காணப்படும் படிம விளக்கப் பக்கத்தை இங்கே கீழே காணலாம்.
பொதுக்கோப்பகம் ஒரு கட்டற்ற கோப்புகளின் சேமிப்பகமாகும். நீங்களும் உதவலாம்.

சுருக்கம்

விளக்கம்
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
நாள் 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
மூலம்

http://kristian.molhave.dk

ஆசிரியர் yashvant
அனுமதி
(இக்கோப்பை மீண்டும் பயன்படுத்துதல்)
CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!

Template loop detected: Template:Autotranslate <includeonly></includeonly>

அனுமதி

w:ta:கிரியேட்டிவ் காமன்ஸ்
பண்புக்கூறுகள்
This file is licensed under the Creative Commons Attribution 2.5 Generic license.
நீங்கள் சுதந்திரமாக:
  • பகிர்ந்து கொள்ள – வேலையை நகலெடுக்க, விநியோகிக்க மற்றும் அனுப்ப
  • மீண்டும் கலக்க – வேலைக்கு பழகிக்கொள்ள.
கீழ்க்காணும் விதிகளுக்கு ஏற்ப,
  • பண்புக்கூறுகள் – நீங்கள் பொருத்தமான உரிமையை வழங்க வேண்டும், உரிமத்திற்கான இணைப்பை வழங்க வேண்டும் மற்றும் மாற்றங்கள் செய்யப்பட்டிருந்தால் குறிப்பிட வேண்டும். நீங்கள் ஏற்புடைய எந்த முறையிலும் அவ்வாறு செய்யலாம், ஆனால் எந்த வகையிலும் உரிமதாரர் உங்களை அல்லது உங்கள் பயன்பாட்டிற்கு ஒப்புதல் அளிக்கும் படி பரிந்துரைக்க கூடாது.

Captions

Add a one-line explanation of what this file represents

Items portrayed in this file

depicts ஆங்கிலம்

copyright status ஆங்கிலம்

copyrighted ஆங்கிலம்

checksum ஆங்கிலம்

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

data size ஆங்கிலம்

88,071 பைட்டு

569 படவணு

721 படவணு

கோப்பின் வரலாறு

குறித்த நேரத்தில் இருந்த படிமத்தைப் பார்க்க அந்நேரத்தின் மீது சொடுக்கவும்.

நாள்/நேரம்நகம் அளவு சிறுபடம்அளவுகள்பயனர்கருத்து
தற்போதைய14:10, 21 நவம்பர் 200614:10, 21 நவம்பர் 2006 இலிருந்த பதிப்புக்கான சிறு தோற்றம்721 × 569 (86 KB)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

கோப்பின் முழுமையான பயன்பாடு

கீழ்கண்ட மற்ற விக்கிகள் இந்த கோப்பை பயன்படுத்துகின்றன:

சிறப்பு பக்கம்-மொத்த பயன்பாடு - இதன் மூலம் இந்த கோப்பின் மொத்த பயன்பாட்டை அறிய முடியும்

"https://ta.wikipedia.org/wiki/படிமம்:AFMsetup.jpg" இலிருந்து மீள்விக்கப்பட்டது