ஊடுருவி எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கி

ஊடுருவி எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கி (Transmission electron microscope, TEM) என்பது எதிர்மின்னி ஆற்றலைப் பயன்படுத்தி அதி நுண்மையான பொருள்களின் தோற்றத்தை அறியப் பயன்படும் எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கியாகும். இவை அலகிடல் எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கியைப்போல் அல்லாமல் இவை மாதிரிகளின் மீது பட்டு அதனை ஊடுருவி ஒளிரும் திரைகளின் மீதுப்பட்டு பெறப்படும் பிம்பங்களை காணலாம். இவை ஒளி நுண்ணோக்கியைப் போல் இல்லாமல் அதிலிருந்து பெறப்படும் உருவங்களை விட 10000 மடங்கு பெரிதாக காட்டவல்லது.

TEM படம்: இளம்பிள்ளை வாத தீநுண்ம்ம். 30 nm

வரலாறு

இதை 1931ஆம் ஆண்டு மாக்ச் க்னால் மற்றும் எர்னச்டு ருச்கா இணைந்து இதை உருவாக்கினர். இது முதலில் ஒளி நுண்ணோக்கியால் காண்பதைவிட சற்றுப் பெரிதாகக் காட்டுவதாக உருவாக்கினர். காலப்போக்கில் பல மாற்றங்களைப் பெற்று தொழில்நுட்பத்தில் அதீத வளர்ச்சியடைந்திருக்கிறது. இவை 1939 ஆம் ஆண்டு சந்தைக்குக் கொண்டுவரப்பட்டது.

பாகங்கள்

இவை அனைத்தும் இயங்க வெற்றிடமும், எதிர்மின்னியை உருவாக்க டங்சுடன்/தங்குதன் இழை அல்லது இலந்தனம் ஆறுபோரேடு இழை, எதிர்மின்னி துப்பாக்கி, அதிக ஆற்றல் கொண்ட மின் (100-300 KV) திறன், காந்த வில்லைகள், ஒளிருத்திரை ஆகியன இடம் பெற்றுள்ளன.

இலத்திரன் வில்லை

எலக்ட்ரான் வில்லை என்பது மின்புலம் அல்லது காந்த புலங்களின் துணையுடன் எலக்ட்ரான் கற்றைதினை குவியச் செய்யும் அமைப்பாகும். ஒளியியலில் கண்ணாடி வில்லைகளைப் போல் இந்த மின், காந்த புலங்கள் எலக்ட்ரான் கற்றையினைக் குவிக்க துணைநிற்கின்றன. எலக்ட்ரான் நுண்நோக்கி (Electron microscope ), எதிர்முனைக் கதிர் குழாய் (cathode ray osciloscope) போன்ற கருவிகளில் பெரிதும் பயன்படுகின்றன.

செயல்பாடு

தனிம இழைகளில் அதிக ஆற்றல் கொண்ட மின்திறன் பட்டு வெளிப்படும் எதிர்மின்னியை ஒழுங்குப்படுத்தி அதிமெலிதாக வெட்டப்பட்ட மாதிரிகளின் மீது படச்செய்து, அவ்வெதிர்மின்னி அம்மாதிரியிலுள்ள அணுக்களுடன் இணைந்து தகவல் கொண்ட குறிப்புகளாகக் கடந்து செல்கிறது. இவ்வாறு கடந்து செல்லும் மின்னிக்கீற்றுகள் தொகுப்புத் துளைகளால் இலக்கை நோக்கிச் செலுத்தி காந்த வில்லைகளால் ஒளித்திரைகளின் மீது பட்டு பிம்பம் பெறப்படுகிறது.

காட்சி

பாசுப்பரசுகளால் ஆன ஒளித்திரையில் படும் தகவல் மின்னிக்கீற்றிகள் அதி நுண்மமாக்கப்பட்ட (10 - 100 μm) துத்தநாக சல்பைடுகளின் துணையால் நேரடிப் பார்வைக்கு கிடைக்கிறது. இதை சிசிடி படப்பெட்டியின் துணைக்கொண்டு கணினிக்கு அனுப்பப்பட்டு காணமுடியும்.

பயன்

இவை உயிரணுவியல் துறை, அதிக நுண்மையாக காண, நுண்ணறைகளின் உட்பாகங்களை அறிய, படிமங்களைப் பற்றிப்படிக்க இந்நுண்ணோக்கி பயன்படுகிறது.

மேற்குறிப்புகள்

• Kirkland, E (1998). Advanced computing in Electron Microscopy. Springer. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 0306459361
• Ernst Ruska, translation my T Mulvey. The Early Development of Electron Lenses and Electron Microscopy. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 3-7776-0364-3
• Hawkes, P. (Ed.) (1985). The beginnings of Electron Microscopy. Academic Press
• Champness, P. E. (2001). Electron Diffraction in the Transmission Electron Microscope. Garland Science. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 1859961479
• Egerton, R (2005). Physical principles of electron microscopy. Springer. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 0387258000
• Williams, D and Carter, C. B. (1996). Transmission Electron Microscopy. 1 - Basics. Plenum Press. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 0-306-45324-X.
• Biological Electron Microscopy: Theory, techniques and troubleshooting. springer. 2003. ISBN 030677491
• Buckingham, J (1965). "Thermionic emission properties of a lanthanum hexaboride/rhenium cathode". British Journal of Applied Physics 16: 1821.
• Edited by Jon Orloff (1197). Orloff, J. ed. Handbook of Electron Optics. CRC-press. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 0849325137.
• Reimer,L and Kohl, H (2008). Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation. Springer