அலகிடு எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கி
அலகிடு எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கி (Scanning electron microscope, அஎநு) என்பது எதிர்மின்னியால் இயங்கப்படும் ஒரு நுண்ணோக்கியாகும். இது கொடுக்கப்படும் மாதிரியை அலகிட அதிக ஆற்றல் கொண்ட எதிர்மின்னி கீற்றைப் பயன்படுத்துகிறது. மாதிரியில் பட்டு வெளிப்படும் எதிர்மின்னியினால் கொடுக்கப்படும் குறிப்புகளைக் கொண்டு பெறப்படும் தகவல்களை வைத்து மாதிரியின் தோற்றமும், பண்புகளையும் அறிந்துகொள்ளலாம்.[1][2][3]
வரலாறு
தொகுஇந்நுண்ணோக்கியை வடிவமைத்து முதல் படமெடுத்தவர் மாக்ச் க்நால் என்பவராவார். இவர் 1935ம் ஆண்டு சிலிக்கன் ச்டீல் பயன்படுத்தி உருவங்களைப்பெற்றார்.
செயல்படுமுறை
தொகுஅஎநு - வெப்ப அயனியாக்களால் டங்க்ச்டன் என்னும் தனிமத்தில் வெளிப்படும் எதிர்மின்னி கீற்றை அதாவது ஆற்றலை ஒருங்கமைத்து அவை மாதிரியின் மீது பட்டு வெளிப்படும் குறிப்புகளை சில பொருள்களைக்கொண்டு சேகரித்து கணினியில் உள்ள மென்பொருளின் துணைக்கொண்டு வடிவத்தை அறிய முடியும். இவை தற்காலத்தைய வளர்ச்சி. ஆதியில் இவை ஒளிஉறிஞ்சு தட்டுகளைப்பயன் படுத்தி பொருள்களை சேகரித்தோம். இவைகளால் நாம் நுண்மையான ஒரு பொருளை குறைந்தது 10000ம் பங்குகளுக்கு கூட்டிக்காண முடியும். இதில் இருக்கும் டங்க்ச்டன் தனிமமானது அதிக வெப்பநிலையிலும் உருகாது இருக்கும். இதன் வெப்பநிலை குறைந்தது 5000o வரை உருகாதிருக்கும்.
பயன்கள்
தொகுசெல்களின் உட்கட்டமைப்புகளை அறியவும் தீநுண்மங்களை காணவும் இது பயன் படுகிறது.
மேற்குறிப்புகள்
தொகு- History of Electron Microscopy 1990s
- Baghaei Rad, Leili (2007). "Computational Scanning Electron Microscopy". International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology.
- Suzuki, E. (2002). "High-resolution scanning electron microscopy of immunogold-labelled cells by the use of thin plasma coating of osmium". Journal of Microscopy 208 (3): 153–157. doi:10.1046/j.1365-2818.2002.01082.x
- Heide Schatten, James B. Pawley (2007). Biological Low-Voltage Scanning Electron Microscopy. Springer. pp. 61–63. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 0-387-72970-4.
மேற்கோள்கள்
தொகு- ↑ Stokes, Debbie J. (2008). Principles and Practice of Variable Pressure Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM). Chichester: John Wiley & Sons. பன்னாட்டுத் தரப்புத்தக எண் 978-0470758748.
- ↑ McMullan, D. (2006). "Scanning electron microscopy 1928–1965". Scanning 17 (3): 175–185. doi:10.1002/sca.4950170309. பப்மெட் சென்ட்ரல்:2496789. http://www-g.eng.cam.ac.uk/125/achievements/mcmullan/mcm.htm.
- ↑ McMullan, D. (1988). "Von Ardenne and the scanning electron microscope". Proc Roy Microsc Soc 23: 283–288.