விக்கிப்பீடியா

பயனர்:TNSE MANI VNR/மணல்தொட்டி: திருத்தங்களுக்கு இடையிலான வேறுபாடு

Browse history interactively
← முந்தைய வேறுபாடுஅடுத்த வேறுபாடு →
உள்ளடக்கம் நீக்கப்பட்டது உள்ளடக்கம் சேர்க்கப்பட்டது
VisualWikitext
No edit summary
No edit summary
வரிசை 1:
[[File:Fizeau interferometer testing optical flat.svg|thumb|right|படம் 1. பியாசோ குறுக்கீட்டுமானி]]
'''பியாசோ குறுக்கீட்டுமானி''' ('''Fizeau interferometer''') <ref>Lawson, Peter R. "Principles of Long Baseline Stellar Interferometry." Course notes from the 1999 Michelson Summer School, held August 15–19, 1999. Edited by Peter R. Lawson. Published by National Aeronautics and Space Administration, Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, CA, 2000.</ref> is anஎன்பது [[interferometryகுறுக்கீட்டுமானம்|interferometricகுறுக்கீட்டுமான]] arrangementஅமைப்பைக் wherebyகொண்ட two[[கருவி]]யாகும். reflectingஇதில் surfacesஇரு are[[எதிரொளிப்பு|எதிரொளிக்கும்]] placedதளங்கள் facingஎதிரெதிரே eachஇணையாக otherஅமைக்கப்பட்டுள்ளன. As seen in Figபடம்&nbsp;1, theகாட்டியுள்ளது rear-surfaceபோல் reflectedமுதலிலுள்ள lightஒளி fromபுகும் theஎதிரொளிப்பானின் transparentபின்புறத்தினால் firstஎதிரொளிக்கப்பட்ட reflectorஒளியும், isஇரண்டாவது combinedஎதிரொளிப்பானின் withமுன் front-surfaceபுறத்தினால் reflectedஎதிரொளிக்கப்பட்ட lightஒளியும் fromஇணைந்து the[[குறுக்கீட்டு second reflector to form interferenceவிளைவு|குறுக்கீட்டுப்பட்டை]]களை fringesஉருவாக்குகிறது.
 
1851 ஆம் ஆண்டு பியாசோ பயன்படுத்திய குறுக்கீட்டு மான அமைப்பைக் கொண்ட கருவியே பியாசோ குறுக்கீட்டுமானியாகும். [[அகஸ்டீன்-ஜீன் ஃபிரெனெல்|ஃபிரெனெல்]] கூறிய ஒளிகடத்துமீதர் இழுப்புக் கோட்பாட்டை, இச் சோதனை ஆதரித்தது. பின்னர் [[ஆல்பர்ட் ஐன்ஸ்டைன்|ஆல்பர்ட் ஐன்சுடைன்]] எடுத்துரைத்த [[சிறப்புச் சார்புக் கோட்பாடு|சிறப்புச் சார்புக் கோட்பாட்டை]] நிரூபிக்க இந்த சோதனை முக்கியமாகப் பயன்பட்டது.
The term '''Fizeau interferometer''' also refers to an interferometric arrangement used by [[Hippolyte Fizeau]] in a famous 1851 experiment that seemingly supported the [[Aether drag hypothesis#Partial aether dragging|partial ether-drag hypothesis]] of [[Augustin Jean Fresnel]], but which ultimately played an instrumental role in bringing about a crisis in physics that led to Einstein's development of the theory of [[special relativity]]. See [[Fizeau experiment]].
 
==பயன்கள்==
Fizeau interferometers are commonly used for measuring the shape of an optical surface: Typically, a fabricated lens or mirror is compared to a reference piece having the desired shape. In Fig. 1, the Fizeau interferometer is shown as it might be set up to test an [[optical flat]]. A precisely figured reference flat is placed on top of the flat being tested, separated by narrow spacers. The reference flat is slightly beveled (only a fraction of a degree of beveling is necessary) to prevent the rear surface of the flat from producing interference fringes. A collimated beam of monochromatic light illuminates the two flats, and a beam splitter allows the fringes to be viewed on-axis.<ref name=Guideline>{{cite web|title=Guideline for Use of Fizeau Interferometer in Optical Testing |url=http://engineer.jpl.nasa.gov/practices/2404.pdf |publisher=[[NASA]] |accessdate=8 April 2012}}</ref><ref name=OPIFizeau>{{cite web |title=Interferential devices - Fizeau Interferometer |url=http://www.optique-ingenieur.org/en/courses/OPI_ang_M02_C05/co/Contenu_25.html |publisher=Optique pour l'Ingénieur.|accessdate=8 April 2012}}</ref>
 
பொதுவாக பியாசோ குறுக்கீட்டுமானிகள் [[ஒளியியல்]] கருவிகளின் வடிவத்தைக் காணப் பயன்பட்டது. ஒரு தரமான மாதிரியுடன், கொடுக்கப்பட்ட [[வில்லை]] அல்லது [[கண்ணாடி]]யின் தன்மை ஒப்பிடப்படுகிறது. படம் 1 ல் ஒளியியல் ரீதியாக தட்டையான அமைப்பைக் கொண்டவை சோதிக்கப்படுகின்றன. ஒரு தரமான மாதிரியுடன் ஒப்பிடப்பட்டு, புதிதாக உருவாக்கப்பட்ட கண்ணாடியின் தட்டைத்தன்மை பரிசோதிக்கப்படுகிறது. இதில் தட்டைத்தன்மையில் சிறிது மாற்றம் ஏற்பட்டாலும், குறுக்கீட்டுப்பட்டைகள் உருவாக்கப்படுவதில்லை. ஒரு ஒற்றை நிற ஒளி மூலம் இணைக் கற்றைகளை உண்டாக்குகிறது. ஒரு கற்றைப்பிரிப்பான் குறுக்கீட்டுப்பட்டைகளை சரியான அச்சில் காண உதவுகிறது.<ref name=Guideline>{{cite web|title=Guideline for Use of Fizeau Interferometer in Optical Testing |url=http://engineer.jpl.nasa.gov/practices/2404.pdf |publisher=[[NASA]] |accessdate=8 April 2012}}</ref><ref name=OPIFizeau>{{cite web |title=Interferential devices - Fizeau Interferometer |url=http://www.optique-ingenieur.org/en/courses/OPI_ang_M02_C05/co/Contenu_25.html |publisher=Optique pour l'Ingénieur.|accessdate=8 April 2012}}</ref>
The reference piece is sometimes realized by a diffractive optical element (computer-generated hologram or CGH), as this can be manufactured by high accuracy lithographic methods. Fig.&nbsp;2 illustrates the use of CGHs in testing. Unlike the figure, actual CGHs have line spacing on the order of 1 to 10&nbsp;[[µm]]. When laser light is passed through the CGH, the zero-order diffracted beam experiences no wavefront modification. The wavefront of the first-order diffracted beam, however, is modified to match the desired shape of the test surface. In the illustrated Fizeau interferometer test setup, the zero-order diffracted beam is directed towards the spherical reference surface, and the first-order diffracted beam is directed towards the test surface in such a way that the two reflected beams combine to form interference fringes.<ref name=Burge2010>{{cite journal |last=Burge |first=J. H. |author2=Zhao, C.|author3=Dubin, M. |title=Measurement of aspheric mirror segments using Fizeau interferometry with CGH correction |journal=Proceedings of SPIE |date=2010 |volume=7739 |pages=773902 |doi=10.1117/12.857816 |url=http://www.loft.optics.arizona.edu/documents/journal_articles/Jim_Burge_Measurement_of_aspheric_mirror_segments_using_Fizeau_interferometry_with_CGH_correction.pdf}}</ref>
 
கணிணியில் மிகவும் துல்லியமான அச்சுக்கலை முறையைப் பயன்படுத்தி, தரமான முப்பரிமாண ஒளிப்படம் மூலம் ஒப்பிடும் ஒளியியல் கருவிகள் உருவாக்கப்படுகின்றன. படம் 2 முப்பரிமாண ஒளிப்படச் சோதனையை காட்டுகிறது. கணிணியால் உருவாக்கப்பட்ட முப்பரிமாண ஒளிப்படங்கள் 1 லிருந்து 10&nbsp;[[மைக்ரோமீட்டர்]] வரையுள்ள அளவைப் பெற்றிருக்கும். [[சீரொளி]] கற்றையானது, கணிணியால் உருவாக்கப்பட்ட முப்பரிமாண ஒளிப்படம் வழியாகச் செல்லும் போது, அதன் சுழி வரிசை விளிம்பு விளைவுக் கற்றைகள் எந்த மாற்றமும் அடைவதில்லை. ஆனால் முதல் வரிசை விளிம்பு விளைவுக் கற்றைகள், சோதனைக்கு உட்படுத்தப்படும் தளங்களுக்கேற்றவாறு மாற்றமடைகின்றன.
 
In the illustrated Fizeau interferometer test setup, the zero-order diffracted beam is directed towards the spherical reference surface, and the first-order diffracted beam is directed towards the test surface in such a way that the two reflected beams combine to form interference fringes.
 
<ref name=Burge2010>{{cite journal |last=Burge |first=J. H. |author2=Zhao, C.|author3=Dubin, M. |title=Measurement of aspheric mirror segments using Fizeau interferometry with CGH correction |journal=Proceedings of SPIE |date=2010 |volume=7739 |pages=773902 |doi=10.1117/12.857816 |url=http://www.loft.optics.arizona.edu/documents/journal_articles/Jim_Burge_Measurement_of_aspheric_mirror_segments_using_Fizeau_interferometry_with_CGH_correction.pdf}}</ref>
[[File:Fizeau optical testing with computer generated hologram.png|thumb|none|550px|Figure 2. Optical testing with a Fizeau interferometer and a computer generated hologram]]
 
"https://ta.wikipedia.org/wiki/பயனர்:TNSE_MANI_VNR/மணல்தொட்டி" இலிருந்து மீள்விக்கப்பட்டது